相位噪声和阿伦方差测量仪

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5120A是一款全数字化的相位噪声阿伦方差测试仪，可同时测量相位噪声及阿伦方差，也可以测量相位差和频率差，同时也可作为高精度频率计使用。其全数字化测量的专利技术，免除了载波抑制的需要，使很小的频差下测量相位噪声成为可能。依赖于同一技术，阿伦方差的测量时间可以延长至300天。广泛运用于计量测试，高精度振荡器的生产和使用、微波设备的检测，信号分析等领域。另有TSC 5115A(只测相噪)，TSC 5125A（0-400MHz输入范围）可选。

准确测量：分辨率达到100飞秒，即1E-13秒
即时阿伦方差计算，取样时间间隔：0.01秒
到106秒，结果重复性好。重量轻便于携带，带有
以太网口；可提供NIST测试报告（收费服务）。

频率范围	1-30 MHz	测量准确度	± 1.0 dB
相位噪声特性
艾伦方差	≤3E-15@1s	频率偏置范围	0.1 mHz to 1MHz
偏置		L(f) 相噪
1Hz		-145 dBc/Hz
10Hz		-155 dBc/Hz
100Hz		-165 dBc/Hz
≥10KHz		-175 dBc/Hz
系统噪声本底（10MHz输入，带5120A-001内部参考）
偏置		L(f) 相噪
1Hz		-120 dBc/Hz
≥10KHz		-168 dBc/Hz

5120A Block Diagram

产品详细资料

美国Microchip Frequency and Time Systems公司